روبرت جاي ماركس الثاني (Robert J. Marks II) هو مهندس أمريكي، ولد في 25 أغسطس 1950 في فيرجينيا الغربية في الولايات المتحدة.[1][2][3]
| روبرت جاي ماركس الثاني | |
|---|---|
| معلومات شخصية | |
| الميلاد | 25 أغسطس 1950 (70 سنة) فيرجينيا الغربية |
| مواطنة | |
| عضو في | معهد مهندسي الكهرباء والإلكترونيات |
| الحياة العملية | |
| المهنة | مهندس |
| موظف في | جامعة واشنطن، وجامعة بايلور |
| الجوائز | |
زمالة معهد مهندسي الكهرباء والإلكترونيات |
|
مراجع
- Matthew A. Prelee and David L. Neuhoff. "Multidimensional Manhattan Sampling and Reconstruction." IEEE Transactions on Information Theory 62, no. 5 (2016): 2772-2787.
- Leon Cohen, Time Frequency Analysis: Theory and Applications, Prentice Hall, (1994)
- J.L. Brown and S.D.Cabrera, "On well-posedness of the Papoulis generalized sampling expansion," IEEE Transactions on Circuits and Systems, May 1991 Volume: 38 , Issue 5, pp. 554–556
وصلات خارجية
- لا بيانات لهذه المقالة على ويكي داتا تخص الفن